원자힘현미경(AFM)으로 C-S-H 표면 거칠기와 나노기계적 특성을 분석하는 원리

시멘트 페이스트를 아주 작은 크기까지 확대하면 C-S-H와 수산화칼슘, 미반응 클링커, 공극 등 서로 다른 구조가 복잡하게 분포하고 있습니다.

이 가운데 C-S-H는 콘크리트 강도와 변형특성에 중요한 역할을 하지만 매우 작은 나노구조를 가지고 있어 일반적인 광학현미경으로 세부 형태를 관찰하기 어렵습니다.

SEM과 TEM 같은 전자현미경을 이용하면 매우 높은 배율로 미세구조를 관찰할 수 있지만, 시료 표면을 직접 만지면서 높이 차이와 접착력, 탄성 특성을 함께 측정하려면 다른 방식이 필요합니다.

이때 활용할 수 있는 장비가 원자힘현미경, 즉 AFM입니다.

AFM은 Atomic Force Microscopy의 약자로 매우 날카로운 탐침을 시료 표면 가까이에 이동시키면서 탐침과 시료 사이에 발생하는 힘을 측정합니다.

이를 통해 시멘트 수화물의 표면 형상을 3차원으로 관찰하고 나노스케일에서 표면 거칠기, 접착력, 변형량과 국부 탄성계수 등을 분석할 수 있습니다.

경화 시멘트 페이스트를 대상으로 한 연구에서도 AFM을 이용해 표면 형상과 접착력, Young’s modulus를 동시에 지도 형태로 분석한 사례가 보고되었습니다.

AFM은 어떻게 표면을 볼까?

AFM의 핵심에는 매우 작은 탐침이 있습니다.

탐침 끝부분은 극도로 가늘며, 탐침은 얇고 탄성이 있는 캔틸레버 끝에 달려 있습니다.

이 탐침을 시료 표면 가까이 가져가면 탐침 끝과 시료 사이에 인력 또는 반발력이 발생합니다.

탐침이 표면의 높은 부분을 지나면 캔틸레버가 위로 움직이고, 낮은 부분을 지나면 아래로 움직입니다.

장비는 이러한 미세한 움직임을 측정하면서 시료 표면의 높이 정보를 기록합니다.

탐침을 표면 전체에 걸쳐 한 줄씩 이동시키면 수많은 높이 데이터가 얻어지고, 이를 이용해 표면의 3차원 지형도를 만들 수 있습니다.

따라서 AFM 영상은 일반 카메라처럼 빛을 촬영해 얻은 사진이 아니라 탐침이 표면을 따라 이동하면서 측정한 높이 정보를 영상으로 변환한 것입니다.

캔틸레버는 어떤 역할을 할까?

캔틸레버는 매우 작은 스프링처럼 작동합니다.

탐침 끝에 힘이 가해지면 캔틸레버가 휘어집니다.

이 휘어진 정도를 알면 탐침과 시료 사이에 작용한 힘을 계산할 수 있습니다.

일반적인 AFM에서는 캔틸레버 뒷면에 레이저를 비추고, 반사된 레이저 위치 변화를 광검출기로 측정합니다.

캔틸레버가 조금만 움직여도 반사된 레이저 위치가 크게 변하기 때문에 매우 작은 변형을 감지할 수 있습니다.

캔틸레버의 스프링 상수와 변위를 알고 있다면 기본적으로 힘과 변위 관계를 이용해 탐침에 작용한 힘을 계산할 수 있습니다.

이 때문에 AFM은 단순히 표면을 보는 현미경을 넘어 작은 힘을 측정하는 기계적 분석장비로도 활용됩니다.

접촉모드와 탭핑모드는 무엇이 다를까?

AFM에는 여러 측정방식이 있습니다.

접촉모드에서는 탐침이 시료 표면과 지속적으로 접촉한 상태에서 움직입니다.

표면의 높이 변화를 빠르게 측정할 수 있지만 연약한 시료에서는 탐침이 표면을 긁거나 변형시킬 가능성이 있습니다.

시멘트 수화생성물 가운데 일부는 매우 미세하고 연약할 수 있기 때문에 탐침 하중을 주의해야 합니다.

탭핑모드에서는 캔틸레버를 진동시키면서 탐침이 표면을 반복적으로 가볍게 접촉하거나 매우 가까이 접근합니다.

시료와 탐침 사이에 발생하는 횡방향 힘을 줄일 수 있어 비교적 연약한 나노구조를 관찰하는 데 유리합니다.

어떤 방식이 항상 더 좋은 것은 아닙니다.

시료의 강도와 표면상태, 측정하려는 특성에 따라 적절한 모드를 선택해야 합니다.

AFM에서 표면 거칠기는 어떻게 측정할까?

AFM으로 얻은 높이 데이터에는 시료 표면의 미세한 요철이 모두 기록됩니다.

이를 이용하면 일정한 면적에서 표면 높이가 평균값으로부터 얼마나 벗어나 있는지 계산할 수 있습니다.

대표적으로 평균 거칠기와 RMS 거칠기 같은 값을 사용할 수 있습니다.

시멘트 페이스트에서는 수화생성물이 성장하면서 표면의 미세한 구조가 달라질 수 있습니다.

혼화재를 사용하거나 나노재료를 첨가했을 때 C-S-H의 형상과 표면 거칠기가 변화할 수도 있습니다.

AFM은 이러한 변화를 수십 나노미터 또는 그보다 작은 스케일에서 비교할 수 있습니다.

실제로 시멘트계 재료 연구에서는 AFM을 이용해 수화 시멘트 페이스트의 나노표면 거칠기와 C-S-H 형태를 관찰해 왔습니다.

거칠기가 높으면 콘크리트 성능도 좋은 것일까?

그렇게 단순하게 판단해서는 안 됩니다.

표면 거칠기는 관찰한 아주 작은 영역의 형상을 나타냅니다.

수화생성물이 많이 성장하면서 표면이 복잡해져 거칠기가 증가할 수도 있지만 시료 연마상태나 파손, 건조수축 때문에 거칠게 나타날 수도 있습니다.

또한 거칠기가 높다는 것과 압축강도가 높은 것은 전혀 같은 의미가 아닙니다.

콘크리트 강도는 C-S-H의 양과 밀도, 공극률, 물-결합재비, 균열과 계면특성 등 여러 요소의 영향을 받습니다.

따라서 AFM 거칠기는 미세구조 변화에 대한 하나의 지표로 사용하는 것이 적절합니다.

힘-거리 곡선은 무엇일까?

AFM의 중요한 기능 가운데 하나가 힘-거리 곡선 측정입니다.

탐침을 시료 표면으로 천천히 접근시키면 처음에는 탐침과 표면 사이에 거의 힘이 작용하지 않습니다.

더 가까워지면 인력이 발생하고, 실제 접촉 이후에는 표면이 탐침을 밀어내는 반발력이 증가합니다.

이후 탐침을 다시 표면에서 떼어냅니다.

이때 탐침과 시료 사이에 접착력이 존재하면 탐침이 바로 떨어지지 않고 일정한 힘까지 끌려갈 수 있습니다.

이러한 접근과 후퇴 과정에서 측정한 힘의 변화를 그래프로 나타낸 것이 힘-거리 곡선입니다.

이 곡선을 분석하면 접착력과 변형특성, 국부 탄성계수에 관한 정보를 얻을 수 있습니다.

AFM으로 접착력을 어떻게 알 수 있을까?

탐침이 시료 표면에 접촉한 뒤 다시 떨어질 때 표면과 탐침 사이에는 접착력이 작용할 수 있습니다.

탐침을 위로 이동시키더라도 일정 순간까지 시료에 붙어 있다가 힘이 충분히 커지면 떨어집니다.

이때 필요한 힘을 이용해 국부적인 접착력을 평가할 수 있습니다.

시멘트계 재료에서는 C-S-H 표면과 다른 물질 사이의 상호작용을 연구하는 데 이러한 방법을 사용할 수 있습니다.

예를 들어 최근에는 AFM 탐침에 특정 고분자를 결합한 뒤 C-S-H 표면과의 힘-거리 곡선을 측정해 C-S-H와 고분자 사이의 접착력과 에너지 소산을 나노스케일에서 조사한 연구도 수행됐습니다.

따라서 AFM은 단순한 표면 촬영장비가 아니라 계면에서 실제로 얼마나 강한 힘이 작용하는지를 측정하는 도구가 될 수 있습니다.

PeakForce 모드는 무엇일까?

최근 AFM에서는 PeakForce Tapping과 같은 방식이 나노기계적 특성 매핑에 활용됩니다.

탐침이 표면을 반복적으로 가볍게 접촉하며 각 위치에서 작은 힘-거리 곡선을 얻습니다.

이 과정에서 탐침이 시료에 가하는 최대 힘을 일정하게 제어할 수 있습니다.

각 위치마다 변형량, 접착력과 탄성계수 등을 계산하면 하나의 표면 형상 이미지뿐 아니라 여러 물성지도를 동시에 만들 수 있습니다.

예를 들어 동일한 영역에서 높이 지도와 접착력 지도, 탄성계수 지도를 각각 얻을 수 있습니다.

경화 시멘트 페이스트를 PeakForce 기반 AFM으로 분석한 연구에서는 약 수십 나노미터 수준의 공간분해능으로 국부 탄성계수를 지도화하고, 표면 형상과 접착력 및 Young’s modulus를 구분해 분석했습니다.

탄성계수는 어떻게 계산할까?

AFM 탐침이 시료를 누르면 탐침과 시료 모두 조금씩 변형됩니다.

이때 측정된 힘과 변형량 관계를 접촉역학 모델에 적용하면 국부 탄성계수를 추정할 수 있습니다.

대표적으로 Hertz 모델이나 DMT, JKR과 같은 접촉모델이 사용될 수 있습니다.

하지만 어떤 모델을 사용해야 하는지는 탐침의 형상과 접착력, 시료의 강성 등에 따라 달라집니다.

시멘트 페이스트처럼 표면이 거칠고 여러 상이 섞여 있는 재료에서는 특히 신중해야 합니다.

AFM 압입과 일반 나노인덴테이션 결과를 비교한 연구에서도 측정하는 길이 스케일과 접촉모델 차이 때문에 C-S-H 탄성계수 해석에 차이가 발생할 수 있음이 확인됐습니다.

즉 AFM 장비 화면에서 탄성계수 값이 표시되더라도 보정과 접촉모델을 확인하지 않은 채 절대값으로 받아들여서는 안 됩니다.

C-S-H를 AFM에서 구분할 수 있을까?

AFM 영상에서 특정 형태가 보인다는 이유만으로 C-S-H라고 바로 판단하기는 어렵습니다.

시멘트 페이스트에는 여러 수화생성물이 동시에 존재하기 때문입니다.

다만 표면형상과 기계적 특성을 함께 분석하면 구분 가능성을 높일 수 있습니다.

예를 들어 미반응 클링커는 일반적으로 C-S-H보다 훨씬 높은 강성을 나타낼 수 있고 공극이나 에폭시는 매우 다른 특성을 나타냅니다.

AFM의 탄성계수 지도와 SEM-BSE, EDS 결과를 동일 영역에서 비교하면 어느 부분이 어떤 상인지 보다 신뢰성 있게 판단할 수 있습니다.

실제 PeakForce AFM 연구에서도 FIB로 준비한 경화 시멘트 페이스트 표면을 AFM과 전자현미경·EDS로 함께 분석했습니다.

C-S-H 입자는 얼마나 작게 관찰할 수 있을까?

AFM은 나노스케일의 표면구조를 관찰할 수 있습니다.

경화 시멘트 페이스트를 AFM으로 관찰한 연구에서는 수백 나노미터 크기의 C-S-H 관련 미세 입자구조가 관찰됐고 동시에 국부 기계적 특성이 측정되었습니다.

하지만 AFM 영상에 보이는 하나의 돌출부가 반드시 독립된 C-S-H 기본입자 하나라고 볼 수는 없습니다.

여러 나노구조가 응집해 하나의 더 큰 구조처럼 나타날 수 있고 탐침 끝의 크기 때문에 실제 물체보다 넓게 측정되는 tip convolution 현상도 발생합니다.

따라서 AFM 이미지에서 보이는 입자의 가로 폭을 실제 입자 직경이라고 그대로 해석하면 주의가 필요합니다.

탐침 끝의 모양이 결과에 왜 영향을 줄까?

AFM 탐침은 무한히 뾰족하지 않습니다.

끝부분에는 일정한 곡률반경이 있습니다.

좁고 깊은 공극을 측정할 때 탐침 끝이 공극 바닥까지 들어가지 못하면 실제보다 얕게 보일 수 있습니다.

또 아주 작은 돌출부를 측정하면 탐침의 모양이 영상에 함께 반영되어 실제보다 넓게 보일 수 있습니다.

이를 탐침 형상 효과라고 합니다.

같은 시료라도 탐침이 마모되면 결과가 달라질 수 있습니다.

그래서 정밀한 나노기계적 분석에서는 사용 전후 탐침 상태와 곡률반경을 확인하는 것이 중요합니다.

표면이 너무 거칠면 탄성계수 측정이 어려운 이유

AFM을 이용해 기계적 특성을 정량화하려면 탐침과 시료가 어떤 방식으로 접촉하는지 정확히 알아야 합니다.

표면이 매우 거칠면 탐침이 경사진 면에 접촉할 수 있고 실제 접촉면적 계산에 오차가 발생합니다.

시멘트 페이스트 자체의 불균질성까지 더해지면 탄성계수 값의 분산이 커질 수 있습니다.

PeakForce AFM을 이용한 경화 시멘트 페이스트 연구에서도 표면 거칠기가 국부적인 나노기계적 측정값에 영향을 미칠 수 있음이 지적됐습니다.

따라서 기계적 매핑이 목적이라면 가능한 한 평탄한 표면을 준비하는 것이 중요합니다.

AFM 시료를 왜 연마해야 할까?

자연 파단면은 수화물의 실제 형태를 볼 수 있다는 장점이 있지만 표면 높이 차이가 매우 큽니다.

이 경우 탐침이 급격한 높이 변화를 따라가지 못하거나 기계적 특성을 정확하게 측정하기 어려울 수 있습니다.

그래서 탄성계수 지도나 접착력 지도 측정에서는 표면을 매우 평평하게 연마하는 방법을 사용합니다.

에폭시 함침 후 연마하거나 FIB를 이용해 특정 영역을 평탄하게 만드는 방법도 사용할 수 있습니다.

다만 연마 자체가 연약한 수화물을 손상하거나 표면을 오염시킬 가능성이 있습니다.

따라서 단순 형상 관찰과 정량적인 기계적 측정은 서로 다른 시료 준비방법이 필요할 수 있습니다.

물이 있는 상태에서도 AFM 분석이 가능할까?

가능합니다.

AFM은 전자현미경처럼 반드시 고진공이 필요한 분석법은 아닙니다.

적절한 액체 셀을 사용하면 물이나 특정 용액 속에서도 표면을 분석할 수 있습니다.

이것은 시멘트 연구에서 중요한 장점입니다.

C-S-H는 건조되면서 수축하거나 구조가 변할 수 있기 때문입니다.

수용액 속 AFM을 사용하면 건조시료와 다른 환경에서 수화물 표면을 관찰하거나 용액 조성에 따른 표면힘 변화를 연구할 수 있습니다.

하지만 실제 수화 시멘트 페이스트에서는 반응이 계속 진행되며 입자가 움직일 수 있어 안정적인 고해상도 촬영이 쉽지 않습니다.

건조된 C-S-H와 젖은 C-S-H는 같다고 볼 수 있을까?

완전히 같다고 보기 어렵습니다.

C-S-H에는 구조 내부와 표면에 다양한 형태의 물이 존재합니다.

시료를 건조하면 물이 빠져나가면서 층 사이 간격이나 나노공극 구조가 달라질 수 있습니다.

따라서 건조 시료에서 측정한 표면 거칠기와 접착력, 탄성 특성을 완전히 포화된 실제 콘크리트 내부 C-S-H에 그대로 적용할 때에는 주의가 필요합니다.

AFM의 장점 가운데 하나는 환경을 제어하면서 표면 특성을 비교할 수 있다는 점입니다.

건조상태와 습윤상태를 동일한 방식으로 비교하면 수분이 C-S-H 표면과 기계적 거동에 어떤 영향을 주는지도 연구할 수 있습니다.

AFM과 나노인덴테이션은 무엇이 다를까?

두 시험 모두 매우 작은 영역의 기계적 특성을 측정할 수 있습니다.

하지만 측정 스케일과 목적이 다릅니다.

나노인덴테이션은 다이아몬드 압자를 일정 하중으로 눌러 하중-변위 곡선을 측정하고 경도와 탄성계수를 계산합니다.

AFM은 훨씬 작은 탐침을 이용해 표면을 주사하면서 더 작은 영역의 힘-거리 특성을 측정할 수 있습니다.

AFM 기반 압입으로 C-S-H 탄성특성을 측정한 연구에서는 나노인덴테이션과 AFM이 서로 다른 길이 스케일을 조사하기 때문에 측정된 C-S-H 기계적 특성에 차이가 나타날 수 있다고 설명했습니다.

따라서 두 방법 중 하나가 맞고 다른 하나가 틀린 것이 아니라 측정하고 있는 C-S-H 구조의 스케일이 다를 수 있습니다.

AFM과 SEM은 무엇이 다를까?

SEM은 전자빔으로 넓은 미세구조를 빠르게 관찰할 수 있습니다.

BSE 영상과 EDS를 이용하면 수화물과 미반응 클링커, 공극의 위치 및 원소조성을 분석할 수 있습니다.

AFM은 관찰영역이 상대적으로 작고 측정시간도 더 길 수 있습니다.

대신 표면의 실제 높이정보와 거칠기, 접착력, 변형과 국부 탄성계수를 측정할 수 있습니다.

즉 SEM은 형태와 조성분석에 강하고 AFM은 표면형상과 표면힘·기계적 매핑에 강합니다.

두 시험을 동일 위치에서 함께 사용하면 훨씬 많은 정보를 얻을 수 있습니다.

AFM과 TEM은 무엇이 다를까?

TEM은 매우 얇은 시료를 전자가 통과하도록 하여 C-S-H의 나노구조와 결정격자를 관찰할 수 있습니다.

따라서 분해능 자체에서는 TEM이 훨씬 높은 정보를 제공할 수 있습니다.

AFM은 탐침으로 실제 표면을 따라 움직입니다.

그래서 결정격자를 보는 시험이라기보다 표면의 3차원 높이와 국부적인 힘을 측정하는 데 강점이 있습니다.

또한 일반 AFM은 TEM처럼 고진공 환경이 필수적이지 않다는 차이가 있습니다.

TEM이 구조를 아주 세밀하게 보는 장비라면 AFM은 나노표면을 직접 만져보면서 특성을 조사하는 장비라고 이해하면 쉽습니다.

AFM과 SAXS 결과는 어떻게 연결할 수 있을까?

SAXS는 시료 전체의 수많은 나노구조에서 발생한 산란신호를 평균해 C-S-H의 나노구조와 표면특성을 분석합니다.

AFM은 매우 작은 특정 영역의 표면을 직접 관찰합니다.

따라서 SAXS에서 표면 복잡성이 증가한 것으로 나타났다면 AFM으로 실제 표면의 거칠기와 C-S-H 형태가 어떻게 달라졌는지를 확인할 수 있습니다.

SAXS는 대표성이 높지만 실제 이미지를 직접 보여주지는 않고, AFM은 실제 나노지형을 보여주지만 관찰면적이 매우 작습니다.

두 시험의 장단점이 서로 반대이기 때문에 함께 사용할 가치가 있습니다.

힘 측정에는 탐침 보정이 중요한 이유

AFM에서 힘은 캔틸레버가 얼마나 휘었는지를 이용해 계산합니다.

따라서 캔틸레버의 스프링 상수와 탐침 끝의 곡률반경이 정확하지 않으면 계산된 탄성계수에도 오차가 발생합니다.

특히 C-S-H와 같이 매우 작은 영역에서 정량적인 탄성계수를 구하려면 탐침 보정이 중요합니다.

탐침이 사용 중 마모되면 접촉면적이 달라질 수 있습니다.

한 번 측정을 시작할 때와 끝났을 때 탐침 상태가 크게 달라져 있다면 데이터 전체를 다시 검토해야 할 수도 있습니다.

따라서 AFM의 나노기계적 측정에서는 아름다운 이미지보다 측정조건과 보정과정이 더 중요할 수 있습니다.

같은 위치에서도 값이 다른 이유

시멘트 페이스트는 매우 불균질한 재료입니다.

C-S-H 한 영역 안에서도 밀도와 화학조성, 수분상태가 완전히 동일하지 않을 수 있습니다.

또한 측정점 아래에 공극이 있거나 다른 수화상이 존재하면 탐침이 느끼는 유효 강성이 달라질 수 있습니다.

따라서 AFM으로 얻은 탄성계수 값은 하나의 숫자로 표현하기보다 여러 지점의 분포와 공간적인 패턴을 함께 보는 것이 좋습니다.

최근 C-S-H의 다중스케일 기계특성 연구에서도 AFM과 나노인덴테이션 등 서로 다른 길이 스케일의 시험을 결합해야 C-S-H의 계층적인 기계적 거동을 이해할 수 있다고 설명합니다.

AFM의 가장 큰 장점

AFM의 가장 큰 특징은 나노표면의 형태와 힘 정보를 같은 위치에서 연결할 수 있다는 것입니다.

하나의 영역을 측정하면서 높이와 거칠기를 확인하고, 동시에 접착력과 변형, 탄성계수까지 지도처럼 비교할 수 있습니다.

이 때문에 C-S-H의 구조와 나노기계적 특성 사이의 관계를 연구하는 데 활용가치가 높습니다.

또한 전자현미경과 달리 반드시 고진공이 필요한 것은 아니기 때문에 액체환경을 이용한 표면 분석도 가능합니다.

하지만 측정면적이 작고 스캔시간이 길며 탐침 형상과 표면거칠기, 접촉모델이 결과에 큰 영향을 준다는 한계도 있습니다. 시멘트계 나노분석 연구에서도 AFM의 높은 공간분해능과 함께 비교적 긴 측정시간이 한계로 지적됩니다.

자주 묻는 질문

AFM으로 C-S-H를 직접 볼 수 있나요?

C-S-H가 형성된 나노표면의 높이와 형태를 관찰할 수 있습니다. 다만 모양만 보고 C-S-H라고 확정하기보다 SEM-EDS 등 다른 분석결과와 함께 판단하는 것이 좋습니다.

AFM으로 탄성계수도 측정할 수 있나요?

가능합니다. 힘-변위 데이터와 적절한 접촉모델을 이용해 국부 탄성계수를 추정할 수 있으며 PeakForce 방식으로 탄성계수 지도를 만들 수도 있습니다.

AFM과 나노인덴테이션 중 어떤 방법이 더 정확한가요?

측정대상과 길이 스케일이 다르기 때문에 단순히 어느 한쪽이 더 정확하다고 보기 어렵습니다. AFM은 더 작은 영역을 측정할 수 있지만 탐침 보정과 접촉모델의 영향을 크게 받을 수 있습니다.

AFM 분석에는 진공이 필요한가요?

일반적으로 TEM이나 SEM처럼 고진공이 필수적이지 않습니다. 공기 중뿐 아니라 적절한 장치를 사용하면 액체환경에서도 측정할 수 있습니다.

AFM 표면 거칠기가 높으면 C-S-H가 많다는 뜻인가요?

반드시 그렇지는 않습니다. 수화물 성장 외에도 연마와 건조, 시료 파손 등이 표면 거칠기에 영향을 줄 수 있으므로 다른 분석결과와 함께 해석해야 합니다.

마무리

원자힘현미경은 매우 작은 탐침을 이용해 시멘트 수화물의 표면을 나노스케일에서 직접 주사하는 분석방법입니다.

탐침이 시료 표면을 이동하면서 측정한 높이정보를 이용하면 C-S-H의 나노표면 형상과 거칠기를 3차원으로 확인할 수 있습니다.

또한 탐침과 시료 사이의 힘-거리 곡선을 분석하면 접착력과 변형특성, 국부 탄성계수까지 평가할 수 있습니다.

특히 PeakForce와 같은 방식에서는 동일한 영역에서 표면형상과 접착력, 기계적 특성을 동시에 지도화할 수 있다는 점이 큰 장점입니다.

하지만 AFM 결과는 탐침의 형태와 표면 거칠기, 시료 준비, 수분상태와 접촉역학 모델의 영향을 크게 받을 수 있습니다.

따라서 AFM에서 얻은 탄성계수나 표면 거칠기 하나만으로 C-S-H 성능을 판단해서는 안 됩니다.

AFM으로 국부적인 나노표면과 기계적 특성을 확인하고, SEM-EDS로 미세구조와 원소조성을 분석하며, TEM으로 나노구조와 결정성을 관찰하고, 나노인덴테이션과 SAXS 등의 결과를 함께 비교할 때 시멘트 페이스트의 다중스케일 구조를 보다 정확하게 이해할 수 있습니다.